【再創(chuàng)佳績(jī)】浙江杭可儀器有限公司獲得“首臺(tái)套”證書(shū)！
為深入貫徹省委、省政府關(guān)于制造業(yè)首臺(tái)（套）提升工程的有關(guān)要求，省經(jīng)信廳牽頭組織了2023年度首臺(tái)（套）產(chǎn)品認(rèn)定工作，確定2023年度浙江省首臺(tái)（套）裝備292項(xiàng)。
浙江杭可儀器有限公司的LSIC7000 超大規(guī)模集成電路老化測(cè)試系統(tǒng)在本次認(rèn)定工作中成功入選，該系統(tǒng)憑借其創(chuàng)新性和技術(shù)領(lǐng)先性，在集成電路老化測(cè)試領(lǐng)域取得了重大突破。這一認(rèn)定不僅是對(duì)浙江杭可儀器有限公司的認(rèn)可，更是對(duì)浙江省制造業(yè)創(chuàng)新能力和技術(shù)水平的肯定。
1. 主要功能
支持對(duì)FPGA、ARM、DSP、GPU、CPU、AI芯片等超大規(guī)模集成電路的壽命評(píng)估實(shí)驗(yàn)、車(chē)規(guī)級(jí)芯片出廠老化測(cè)試、二篩服務(wù)。試驗(yàn)溫度是室溫+10℃至+150℃ 范圍內(nèi)的HTOL老化測(cè)試，允許實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)與對(duì)比，并支持still向量文件導(dǎo)入設(shè)備運(yùn)行。
2. 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
TDBl(老化中測(cè)試) 技術(shù)，支持實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)元件輸出信號(hào)。
支持芯片運(yùn)行BIST測(cè)試和SCAN測(cè)試。
兼容美國(guó)MCC與韓國(guó)DI公司的LOGIC老化設(shè)備向量，便于客戶遷移測(cè)試向量。
采用硬公制高速連接器，大幅提高測(cè)試信號(hào)完整性。
采用專(zhuān)用大電流連接器，可靠性、穩(wěn)定性高。
3. 重要性及必要性
新能源汽車(chē)、國(guó)內(nèi)軍工芯片的國(guó)產(chǎn)化替代導(dǎo)致半導(dǎo)體老化設(shè)備需求在快速增加。
中美貿(mào)易摩擦推動(dòng)國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體行業(yè)自主可控進(jìn)程。
LSIC7000超大規(guī)模集成電路老化系統(tǒng)可完全代替進(jìn)口設(shè)備，全面實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)化，為超大規(guī)模集成電路器件壽命評(píng)估、老化測(cè)試提供可靠的工藝設(shè)備保障。
4.技術(shù)指標(biāo)
我們有信心，浙江杭可儀器有限公司將以卓越的業(yè)績(jī)，成為行業(yè)的領(lǐng)軍企業(yè)，為社會(huì)的發(fā)展做出更大的貢獻(xiàn)。